参考论文：Efficient Algorithms for Testing Semiconductor Random-Access Memories
作者：RAVINDRA NAIR, SATISH M. THATTE, AND JACOB A. ABRAHAM
问题来源：
阿伯拉罕测试是在国标标准GB14536-1.2008中提及的一种可变储存器的测试方法，但使用百度Baidu、谷歌Google、必应Bing搜索，所出现信息寥寥，为了更好地解读此国标便有了这一篇介绍。
注：GB14536源于IEC60370。